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涂鍍層測厚儀和涂層測厚儀的特點比較
日期：2024-08-02 23:04
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摘要：
涂層測厚儀也稱為涂鍍層測厚儀
根據(jù)測量原理，涂鍍層測厚儀一般有以下五種類型：
1.磁性厚度測量方法：適用于測量導(dǎo)電材料上非磁性導(dǎo)電層的厚度。 導(dǎo)磁材料通常是：鋼，鐵，銀，鎳。
2.渦流厚度測量方法：適用于導(dǎo)電金屬上非導(dǎo)電層的厚度測量。 此方法比磁性厚度測量方法（NT230涂層測厚儀）更**。
3.超聲波測厚法：目前國內(nèi)尚無這種測厚層厚度的方法。國外一些廠家也有這種儀器，適用于多層測厚層的厚度或厚度的測量。 無法測量以上兩種方法的場合。 但是它通常很昂貴并且測量精度不高。
4.電解厚度測量方法：該方法不同于上述三種方法。 這不是非破壞性測試，需要破壞涂層。 總體精度不高。 測量比其他類型更麻煩。
5.輻射厚度測量方法：這種儀器非常昂貴（通常在10萬元人民幣以上），適合某些特殊場合。
當前，*常用的方法是前兩種方法。
常規(guī)涂鍍層測厚儀的原理
在材料的表面保護和裝飾上形成的覆蓋層，例如涂層，鍍層，涂層，粘附層，化學生成的薄膜等，在相關(guān)的國家和國際標準中稱為涂層。
涂層厚度的測量已經(jīng)成為加工行業(yè)和表面工程質(zhì)量檢查的重要組成部分，并且是產(chǎn)品達到**質(zhì)量標準的必不可少的手段。 為了使產(chǎn)品國際化，我國的出口商品和與國外有關(guān)的項目對涂層的厚度有明確的要求。
涂層厚度的主要測量方法是：楔形切割法，光學切割法，電解法，厚度差測量法，稱量法，X射線熒光法，β射線背散射法，電容法，磁法和渦流法 法律等。這些方法的前五種是破壞性測試。 測量方法麻煩且緩慢，并且*適合于抽樣檢查。
X射線和β射線方法是非接觸式和非破壞性的測量方法，但是該設(shè)備復(fù)雜且昂貴，并且測量范圍小。 由于存在放射源，用戶必須遵守輻射防護規(guī)定。 X射線法可以測量非常薄的涂層，雙層涂層，合金涂層。 β射線法適用于原子量大于3的涂層的測量。電容法僅在測量薄導(dǎo)體絕緣涂層的厚度時使用。
隨著技術(shù)的進步，特別是近年來引入微計算機技術(shù)之后，采用磁法和渦流法的測厚儀已朝著小型化，智能化，多功能化，高精度和實用性的方向邁出了一步。 測量的分辨率達到了0.1微米，精度可以達到1％，這已經(jīng)大大提高了。 它具有廣泛的應(yīng)用范圍，范圍廣，操作簡便，價格低廉。 它是工業(yè)和科學研究中使用*廣泛的厚度測量儀器。
無損檢測方法既不損傷涂層也不破壞基材，檢測速度快，可以使大量的檢測工作變得經(jīng)濟。